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合金材料HAST試驗(yàn)箱：提高材料耐久性和可靠性的關(guān)鍵解決方案在不同行業(yè)中，合金材料的使用越來(lái)越廣泛。然而，一些特殊條件下的應(yīng)用環(huán)境，例如高溫、高濕或其他腐蝕性環(huán)境，可能對(duì)合金材料的性能和可靠性產(chǎn)生負(fù)面影響。因此，為了確保合金材料的耐久性和可...

在現(xiàn)代電子設(shè)備制造中，多層線路板和集成電路芯片（IC芯片）是必不bu可少的關(guān)鍵組成部分。多層線路板是用于連接和支持電子元件的基礎(chǔ)結(jié)構(gòu)，而IC芯片則是電子設(shè)備的核心處理器。為了確保這些關(guān)鍵部件的可靠性和穩(wěn)定性，高壓加速老化試驗(yàn)箱是不可ke或缺...

在電子行業(yè)中，半導(dǎo)體技術(shù)一直是一個(gè)不可ke或缺的領(lǐng)域。而在半導(dǎo)體技術(shù)中，柔性材料PCB（PrintedCircuitBoards）被越來(lái)越廣泛地運(yùn)用于各種電子產(chǎn)品中。這些柔性材料的PCB能夠在彎曲、拉伸等不同形狀的設(shè)備中靈活運(yùn)用，具有很高的...

半導(dǎo)體器件HAST非飽和高壓蒸汽恒定濕熱試驗(yàn)箱半導(dǎo)體器件HAST非飽和高壓蒸汽恒定濕熱試驗(yàn)箱是一種用于測(cè)試和評(píng)估半導(dǎo)體器件在惡劣環(huán)境條件下的性能和可靠性的設(shè)備。該試驗(yàn)箱采用了的技術(shù)和設(shè)計(jì)，能夠模擬高溫高濕條件下的工作環(huán)境，精確地模擬綜合性的...

PCT高壓蒸煮試驗(yàn)箱產(chǎn)品用途PCT高壓蒸煮試驗(yàn)箱適用于國(guó)防、航天、汽車部件、電子零配件、塑膠、磁鐵行業(yè)、制藥線路板，多層線路板、IC、LCD、磁鐵、燈飾、照明制品等產(chǎn)品之密封性能的檢測(cè)，相關(guān)之產(chǎn)品作加速壽命試驗(yàn)，使用于在產(chǎn)品的設(shè)計(jì)階段,用于...

溫度范圍：A：100℃→+132℃（飽和蒸氣溫度），B:100℃→+143℃（飽和蒸氣溫度）壓力范圍：A:0.2~2kg/cm2(0.05~0.196Mpa)，B:0.2~3kg/cm2(0.05~0.294Mpa)加壓時(shí)間：A:約40mi...

HASTCHAMBER又稱為超加速壽命試驗(yàn)機(jī),是用于調(diào)查分析何時(shí)出現(xiàn)電子元器件和機(jī)械零件的摩耗和使用壽命的問題的試驗(yàn)設(shè)備，其目的是提高環(huán)境應(yīng)力與工作應(yīng)力、加快試驗(yàn)過(guò)程縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)的壽命試驗(yàn)時(shí)間。廣泛用于PCB、LCDBoard、電池、電容...

非飽和高壓蒸汽恒定濕熱試驗(yàn)箱是一種符合GB/T2423電子電工環(huán)境產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)的設(shè)備，該設(shè)備可以模擬各種惡劣環(huán)境條件下的工作環(huán)境，并進(jìn)行精確可靠的性能測(cè)試。在工業(yè)和科研領(lǐng)域，該試驗(yàn)箱被廣泛應(yīng)用于電子電工產(chǎn)品的研發(fā)、生產(chǎn)和質(zhì)量檢測(cè)過(guò)程中。非飽和高...